Marko Punkkinen
marpunk@utu.fi +358 29 450 4286 +358 50 511 6059 Vesilinnantie 5 Turku |
Julkaisut 
1/5
- A Detailed Examination of Polysilicon Resistivity Incorporating the Grain Size Distribution (2025)
- IEEE Transactions on Electron Devices
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Bridging the gap between surface physics and photonics (2024)
- Reports on Progress in Physics
(A2 Vertaisarvioitu katsausartikkeli tieteellisessä lehdessä) - Dry cleaning of InSb surfaces by hydrogen molecule exposure in ultrahigh vacuum (2024)
- Applied Surface Science
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Modeling the Influence of Deposition Parameters on the Crystalline Degree in the Simulation of Polycrystalline Silicon (2024)
- physica status solidi (b)
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Polycrystalline silicon, a molecular dynamics study: I. Deposition and growth modes (2024)
- Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Polycrystalline silicon, a molecular dynamics study: II. Grains, grain boundaries and their structure (2024)
- Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Effects of Ultrahigh Vacuum Treatments on Wet Chemically Cleaned Si Surfaces (2023)
- Solid State Phenomena
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Properties and modification of native oxides of InP(100) (2023)
- Journal of Physics D: Applied Physics
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Reversible oxygen-driven c(4 x 4) ↔ (1 x 2) phase transition on the Ba/Ge (100) surface (RETRACTED) (2023)
- Applied Surface Science
(O2 Muu julkaisu ) - Wet Chemical Treatment and Mg Doping of p-InP Surfaces for Ohmic Low-Resistive Metal Contacts (2023)
- Advanced Engineering Materials
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Controlling the fixed negative charge formation in Si/high-k interfaces (2022)
- Physical Review Materials
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Effects of post oxidation of SiO2/Si interfaces in ultrahigh vacuum below 450 °C (2022)
- Vacuum
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Effects of thermal vacuum nitridation of Si(100) surface via NH3 exposure (2022)
- Thin Solid Films
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)
- Physical Review B
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)
- ACS Materials Au
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)
- Advanced Electronic Materials
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Oxygen adsorption on (100) surfaces in Fe-Cr alloys (2021)
- Scientific Reports
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Passivation of III-V surfaces with crystalline oxidation (2021)
- Applied Physics Reviews
(A2 Vertaisarvioitu katsausartikkeli tieteellisessä lehdessä) - Stabilization of unstable and metastable InP native oxide thin films by interface effects (2021)
- Applied Surface Science
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä ) - Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)
- ACS Applied Materials and Interfaces
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä )
Turun yliopiston Tutkimustietojärjestelmän portaali