A4 Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa

Effects of Ultrahigh Vacuum Treatments on Wet Chemically Cleaned Si Surfaces




TekijätJahanshah Rad Zahra, Miettinen Mikko, Punkkinen Marko, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi, Vähänissi Ville, Savin Hele

ToimittajaPaul Mertens, Antoine Pacco, Kurt Wostyn, Quoc Toan Le

Konferenssin vakiintunut nimiUltra Clean Processing of Semiconductor Surfaces

KustantajaTrans Tech Publications Ltd

Julkaisuvuosi2023

JournalSolid State Phenomena

Kokoomateoksen nimiUltra Clean Processing of Semiconductor Surfaces XVI: Selected peer-reviewed full text papers from the 16th International Symposium on Ultra Clean Processing of Semiconductor Surfaces (UCPSS 2023)

Tietokannassa oleva lehden nimiSolid State Phenomena

Sarjan nimiSolid State Phenomena

Vuosikerta346

Aloitussivu57

Lopetussivu62

ISBN978-3-0364-0312-0

eISBN978-3-0364-1312-9

ISSN1012-0394

eISSN1662-9779

DOIhttps://doi.org/10.4028/p-zJ2YOT

Verkko-osoitehttps://doi.org/10.4028/p-zJ2YOT



Last updated on 2024-28-05 at 01:49