A4 Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa

A 3D-Integrated 2-Megapixel Imager with Sparse Capture and Fine-Grain Power Gating

Tekijät: Berkovich, A.; Alkalay, S.; Tsai, T.; Liu, C.; Laiho, M.; Paasio, A.; Poikonen, J.; Grönroos, M.; Kutila, M.; Mäki, P.; Naula, M.; Säntti, T.; Komulainen, T.

Toimittaja: N/A

Konferenssin vakiintunut nimi: International Electron Devices Meeting

Kustantaja: IEEE

Julkaisuvuosi: 2023

Lehti: Technical digest - International Electron Devices Meeting

Kokoomateoksen nimi: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)

Aloitussivu: 1

Lopetussivu: 4

ISBN: 979-8-3503-2768-7

eISBN: 979-8-3503-2767-0

ISSN: 0163-1918

eISSN: 2156-017X

DOI: https://doi.org/10.1109/IEDM45741.2023.10413713

Julkaisun avoimuus kirjaamishetkellä: Ei avoimesti saatavilla

Julkaisukanavan avoimuus : Ei avoin julkaisukanava

Verkko-osoite: https://doi.org/10.1109/iedm45741.2023.10413713