The Imaging X-ray Polarimetry Explorer (IXPE) at last!

: Soffitta P., Baldini L., Baumgartner W., Bellazzini R., Bongiorno S.D., Bucciantini N., Costa E., Dovčiak M., Ehlert S., Kaaret P.E., Kolodziejczak J.J., Latronico L., Marin F., Marscher A.P., Marshall H.L., Matt G., Muleri F., O’Dell S.L., Poutanen J., Ramsey B., Romani R.W., Slane P., Tennant A.F., Turolla R., Weisskopf M.C., Agudo I., Antonelli L.A., Bachetti M., Bianchi S., Bonino R., Brez A., Capitanio F., Castellano S., Cavazzuti E., Chen C.T., Ciprini S., De Rosa A., Del Monte E., Di Gesu L., Di Lalla N., Di Marco A., Donnarumma I., Doroshenko V., Enoto T., Evangelista Y., Fabiani S., Ferrazzoli R., Garcia J.A., Gunji S., Hayashida K., Heyl J., Iwakiri W., Jorstad S.G., Karas V., Kislat F., Kitaguchi T., Krawczynski H., La Monaca F., Liodakis I., Maldera S., Manfreda A., Marinucci A., Massaro F., Mitsuishi I., Mizuno T., Negro M., Ng C.Y., Omodei N., Oppedisano C., Papitto A., Pavlov G.G., Peirson A.L., Perri M., Pesce-Rollins M., Petrucci P.O., Pilia M., Possenti A., Puccetti S., Rankin J., Ratheesh A., Roberts O.J., Sgrò C., Spandre G., Swartz D.A., Tamagawa T., Tavecchio F., Taverna R., Tawara Y., Thomas N.E., Tombesi F., Trois A., Tsygankov S.S., Vink J., Wu K., Xie F., Zane S.

: Oswald H. Siegmund, Keri Hoadley

: SPIE Optical Engineering + Applications

Publisher: SPIE

: San Diego

: 2023

: Proceedings of SPIE : the International Society for Optical Engineering

: Proceedings of SPIE: UV, X-Ray, and Gamma-Ray Space Instrumentation for Astronomy XXIII

: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

: Proceedings of SPIE : the International Society for Optical Engineering

: 12678

: 1267803

: 978-1-5106-6570-5

: 978-1-5106-6571-2

: 0277-786X

: 1996-756X

DOI: https://doi.org/10.1117/12.2677296

: https://doi.org/10.1117/12.2677296