A4 Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa

A Self-Test and Self-Repair Approach for Analog Integrated Circuits

Tekijät: Karmani Mouna, Khedhiri Chiraz, Hamdi Belgacem, Rahmani Amir-Mohammad, Man Ka Lok

Toimittaja: Algimantas Kajackas, Yevgeni Koucheryavy

Kustantaja: IEEE

Julkaisuvuosi: 2012

Aloitussivu: 117

Lopetussivu: 12