A4 Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa

Energy-Efficient Concurrent Testing Approach for Many-Core Systems in the Dark Silicon Age

Tekijät: Mohammad-Hashem Haghbayan, Amir-Mohammad Rahmani, Pasi Liljeberg, Juha Plosila, Hannu Tenhunen

Toimittaja: Said Hamdioui, Marco Ottavi

Konferenssin vakiintunut nimi: IEEE international symposium on defect and fault tolerance in vlsi systems (DFT)

Julkaisuvuosi: 2014

Kokoomateoksen nimi: Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2014 IEEE International Symposium on

ISBN: 978-1-4799-6156-6