A4 Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa

CoBRA: Low cost compensation of TSV failures in 3D-NoC

Tekijät: Ronak Salamat, Masoumeh Ebrahimi, Nader Bagherzadeh, Freek Verbeek

Toimittaja: General Co-Chairs: Omer Khan, Maria K. Michael

Konferenssin vakiintunut nimi: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems

Julkaisuvuosi: 2016

Kokoomateoksen nimi: 2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

Aloitussivu: 115

Lopetussivu: 120

Sivujen määrä: 6

ISBN: 978-1-5090-3624-0

eISBN: 978-1-5090-3623-3

DOI: https://doi.org/10.1109/DFT.2016.7684081