A4 Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa

Image Quality Assessment by Integration of Low-level & High-Level Features: Threshold Similarity Index

Tekijät: Chaudhary Jatin, Pant Dibakar Raj, Pokharel Suresh, Skön Jukka-Pekka, Heikkonen Jukka, Kanth Rajeev

Toimittaja: N/A

Konferenssin vakiintunut nimi: IEEE International Symposium on Industrial Electronics

Julkaisuvuosi: 2022

Journal: Proceedings of the IEEE International Symposium on Industrial Electronics

Kokoomateoksen nimi: 2022 IEEE 31st International Symposium on Industrial Electronics (ISIE)

Sarjan nimi: Proceedings of the IEEE International Symposium on Industrial Electronics

Aloitussivu: 135

Lopetussivu: 141

ISBN: 978-1-6654-8241-7

eISBN: 978-1-6654-8240-0

ISSN: 2163-5137

DOI: https://doi.org/10.1109/ISIE51582.2022.9831651

Verkko-osoite: https://ieeexplore.ieee.org/document/9831651