• Turun yliopisto
  • Ohjeet
  • KIRJAUDU
  • Saavutettavuus
  • EN
    Julkaisut > Structural characterization and strain relaxation in porous GaN layers
    • Etusivu
    • Julkaisut
    • Henkilöt
    • Yksiköt
    • Tieteenala



    Turun yliopiston Tutkimustietojärjestelmän portaali