A4 Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa

Observation of strained SiGe nanoislands embedded in a Si matrix using ambient crosssectional atomic force microscopy

Tekijät: Titkov A., Dunaevskii M., Krasilnik Z., Lobanov D., Novikov A., Laiho R.

Toimittaja: A. G. Cullis, P. A. Midgley

Konferenssin vakiintunut nimi: Microscopy of Semiconducting Materials

Kustantaja: CRC Press

Kustannuspaikka: Boca Raton, FL

Julkaisuvuosi: 2018

Journal: Springer Proceedings in Physics

Kokoomateoksen nimi: Microscopy of Semiconducting Materials 2003: Proceedings of the Institute of Physics Conference, Cambridge University, 31 March- 3 April 2003

Tietokannassa oleva lehden nimi: Microscopy of Semiconducting Materials 2003

Aloitussivu: 123

eISBN: 978-1-351-07463-6

ISSN: 0930-8989

DOI: https://doi.org/10.1201/9781351074636