A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä

Can Dark Silicon Be Exploited to Prolong System Lifetime?

Tekijät: Haghbayan MH, Rahmani AM, Liljeberg P, Jantsch A, Miele A, Bolchini C, Tenhunen H

Kustantaja: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC

Julkaisuvuosi: 2017

Journal: IEEE Design and Test

Tietokannassa oleva lehden nimi: IEEE DESIGN & TEST

Lehden akronyymi: IEEE DES TEST

Vuosikerta: 34

Numero: 2

Aloitussivu: 51

Lopetussivu: 59

Sivujen määrä: 9

ISSN: 2168-2356

DOI: https://doi.org/10.1109/MDAT.2016.2630317