Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1)

Can Dark Silicon Be Exploited to Prolong System Lifetime?




Julkaisun tekijät: Haghbayan MH, Rahmani AM, Liljeberg P, Jantsch A, Miele A, Bolchini C, Tenhunen H

Kustantaja: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC

Julkaisuvuosi: 2017

Journal: IEEE Design and Test

Tietokannassa oleva lehden nimi: IEEE DESIGN & TEST

Lehden akronyymi: IEEE DES TEST

Volyymi: 34

Julkaisunumero: 2

Sivujen määrä: 9

ISSN: 2168-2356

DOI: http://dx.doi.org/10.1109/MDAT.2016.2630317



Last updated on 2021-24-06 at 08:40